Denne artikel eller dette afsnit er forældet. Hvis teksten er opdateret, kan denne skabelon fjernes. Se artiklens diskussionsside eller historik (Lær hvordan og hvornår man kan fjerne denne skabelonbesked)

SPIP er en danskudviklet software, som anvendes til at arbejde med billeder fra avanceret mikroskopiudstyr^[1], f.eks. SPM, SEM, TEM, mv.^[2]

Programmet henvender sig især til brugere af scanning-sondemikroskoper (SPM), som er en meget følsom mikroskoptype, der muliggør topografiske afbildninger af overflader af meget små emner, helt ned i mikro- og nanoskala. Programmet bruges til at forbedre mikroskopi-billederne, lave detaljerede analyser af data og til at eksportere resultaterne til forskningsrapporter og lignende^[3].

F.eks. er det ikke ualmindeligt, at de billeder, som SPM mikroskoperne genererer, indeholder målefejl i form af unøjagtigheder i instrumentet eller påvirkning fra ydre forhold f.eks. temperatur. Programmet kan ved hjælp af avancerede algoritmer udbedre de unøjagtigheder og dermed opnå større præcision i måleresultaterne, end mikroskopet selv kan levere.

Programmet anvendes i dag overalt i verden, hvor der foregår nanoteknologisk forskning med anvendelse af SPM, både på tekniske forskningsinstitutter, målelaboratorier og til industriel forskning. Derudover finder SPIP hyppig anvendelse hos mikroskopi-producenter til kalibrering og kvalitetssikring af instrumenterne.

SPIP var oprindelig en udløber fra et PhD projekt hos IBM Danmark og DTU i Lyngby i starten af 1990'erne og var tænkt som et billedbehandlingsprogram til SPM, men har senere udviklet sig til også at kunne anvendes til andre mikroskopi-typer, bl.a. SEM, TEM, profilometre og interferens mikroskoper.

SPIP sælges, supporteres og videreudvikles af det dansk-baserede firma Image Metrology A/S, som igennem en årrække har specialiseret sig indenfor avanceret software til nano-teknologi, -mikroskopi og relaterede brancher.