|
微分干涉相差显微镜  微分干涉相差显微技术(DIC),又称Nomarski干涉相差显微技术或Nomarski显微镜,是一种增强对比度来观察未染色的透明的样品的光学显微镜。DIC根据干涉测量获取有关样品光路长度信息，以查看其他不可见的特征。相对复杂的光学系统产生具有灰色背景的黑色或白色的图像。该图像类似于通过相差显微镜获得的但没有明亮衍射光晕的图像。该技术由波兰物理学家Georges Nomarski在1952年研发。[1] DIC通过将偏振光源分离成在样品平面上空间位移（剪切）的两个正交偏振相干部分，并在观察之前重组。复合时两部分的干涉对其光程差（即折射率乘积和几何路径长度）敏感。添加可调节的偏移相位确定在所述样品中的零光程差的干涉，对比度是正比于沿剪切方向的路径长度梯度，得到三维的光密度变化的样本图像，图像强调线条和边缘，但不提供表面上准确的图像。 参考文献
外部链接
Information related to 微分干涉相差显微镜 |
|||||||||||||
Index:
pl ar de en es fr it arz nl ja pt ceb sv uk vi war zh ru af ast az bg zh-min-nan bn be ca cs cy da et el eo eu fa gl ko hi hr id he ka la lv lt hu mk ms min no nn ce uz kk ro simple sk sl sr sh fi ta tt th tg azb tr ur zh-yue hy my ace als am an hyw ban bjn map-bms ba be-tarask bcl bpy bar bs br cv nv eml hif fo fy ga gd gu hak ha hsb io ig ilo ia ie os is jv kn ht ku ckb ky mrj lb lij li lmo mai mg ml zh-classical mr xmf mzn cdo mn nap new ne frr oc mhr or as pa pnb ps pms nds crh qu sa sah sco sq scn si sd szl su sw tl shn te bug vec vo wa wuu yi yo diq bat-smg zu lad kbd ang smn ab roa-rup frp arc gn av ay bh bi bo bxr cbk-zam co za dag ary se pdc dv dsb myv ext fur gv gag inh ki glk gan guw xal haw rw kbp pam csb kw km kv koi kg gom ks gcr lo lbe ltg lez nia ln jbo lg mt mi tw mwl mdf mnw nqo fj nah na nds-nl nrm nov om pi pag pap pfl pcd krc kaa ksh rm rue sm sat sc trv stq nso sn cu so srn kab roa-tara tet tpi to chr tum tk tyv udm ug vep fiu-vro vls wo xh zea ty ak bm ch ny ee ff got iu ik kl mad cr pih ami pwn pnt dz rmy rn sg st tn ss ti din chy ts kcg ve
