Échelle d'intelligence Stanford-Binet

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L’échelle d’intelligence Stanford-Binet est un test servant à mesurer le quotient intellectuel. Le test est nommé en l'honneur de la Stanford Graduate School of Education (en), dans laquelle travaillait le psychologue américain Lewis Terman, et d'Alfred Binet, pédagogue français créateur du premier test psychométrique.

Historique

La première version a été produite en 1916 par le psychologue Lewis Terman, de l'université Stanford^[1]. Elle a été conçue à partir du test Binet-Simon^[2]^{[réf. non conforme]}, l'échelle originale de Binet-Simon mise au point en France par Alfred Binet et Theodore Simon.^[3] Cette première version présentait des traductions et des adaptations des items français, ainsi que de nouveaux items que Terman avait développés et testés entre 1904 et 1915.

Pendant les deux décennies qui ont suivi, Terman a continué à développer le test avec sa collègue Maud Merrill, notamment dans la perspective de mieux distinguer les individus à haut potentiel, et il a abouti à deux versions différentes du test, la forme L (pour Lewis) et la forme M (pour Maud) du Stanford-Binet, publié en 1937.

Dans les années 1950, Merrill a de nouveau révisé le Stanford-Binet, en sélectionnant les meilleurs items des formes L et M pour les inclure dans une nouvelle version du test. Elle a ainsi produit la forme L-M, publiée en 1960 (Terman & Merrill, 1960), qui a ensuite été remaniée en 1973 (Terman & Merrill, 1973 ; Merrill, 1973). Cette forme a notamment vu l'ajout d'items alternatifs à tous les niveaux, mais sinon, le format est resté similaire à celui de la révision de 1937.

Une quatrième version, publiée en 1986 (Thorndike, Hagen, & Sattler, 1986) est passée du format d'échelle d'âge mental, introduit par Binet, à un format d'échelle semblable à celle du test de Wechsler, avec une distribution gaussienne des scores, une moyenne de 100 et un écart-type de 16^[1].

L'échelle d'intelligence de Stanford-Binet en est maintenant à sa cinquième édition (SB5)^[4], qui a été publiée en 2003. Ce test d'aptitudes cognitives et d'intelligence est utilisé d’une part pour diagnostiquer les déficiences développementales ou intellectuelles chez les jeunes enfants, puis pour classer les enfants en fonction de leurs aptitudes intellectuelles et pouvoir ainsi les orienter professionnellement. Le test mesure cinq facteurs pondérés et se compose de sous-tests verbaux et non verbaux. Les cinq facteurs testés sont les connaissances, le raisonnement quantitatif, le traitement visuo-spatial, la mémoire de travail et le raisonnement fluide.

Notes et références

↑ ^{a et b} Scales, S. B. I., & Edition, F. (2003). History of the Stanford-Binet Intelligence Scales: Content and Psychometrics. https://citeseerx.ist.psu.edu/document?repid=rep1&type=pdf&doi=184d722e916f41ab3507108a67676a3f78edf7a1
↑ http://gappesm.net/QI/Tests/#StanfordBinet.
↑ The Measurement of Intelligence: An Explanation of and a Complete Guide for the Use of the Stanford Revision and Extension of the Binet-Simon Intelligence Scale (Terman, 1916).
↑ Bruce A. Bracken et Richard J. Nagle, Psychoeducational assessment of preschool children, 2011 (ISBN 978-1-315-08936-2 et 1-315-08936-X, OCLC 1004361907, lire en ligne)

Voir aussi

Bibliographie

(en) K.A Becker, « History of the Stanford–Binet Intelligence scales: Content and psychometrics. », Stanford–Binet Intelligence Scales, Fifth Edition Assessment Service Bulletin No. 1,‎ 2003.
(en) Alfred Binet et Th. Simon (E. S. Kite (Trans.)), The development of intelligence in children : The Binet–Simon Scale, Baltimore, Williams & Wilkins, coll. « Publications of the Training School at Vineland New Jersey Department of Research No. 11 », 1916 (lire en ligne).
Terman, L. M., & Merrill, M. A. (1937). Measuring intelligence. Boston: Houghton Mifflin.
Terman, L. M., & Merrill, M. A. (1960). Stanford-Binet Intelligence Scale: Manual for the Third Revision Form L-M. Boston: Houghton Mifflin.
Terman, L. M., & Merrill, M. A. (1973). Stanford-Binet Intelligence Scale: Manual for the Third Revision Form L-M (1972 Norm Tables by R. L. Thorndike). Boston: Houghton Mifflin.
Thorndike, R. L., Hagen, E. P., & Sattler, J. M. (1986). Stanford-Binet Intelligence Scale: Fourth Edition. Itasca, IL: Riverside Publishing
(en) A. L. Brown et L. A. French, « The Zone of Potential Development: Implications for Intelligence Testing in the Year 2000 », Intelligence (en), vol. 3, n^o 3,‎ 1979, p. 255–273 (DOI 10.1016/0160-2896(79)90021-7).
(en) Raymond E. Fancher, The Intelligence Men : Makers of the IQ Controversy, New York (NY), W. W. Norton, 1985, 269 p. (ISBN 978-0-393-95525-5).
(en) Freides, D., Seventh Mental Measurements Yearbook, Highland Park (NJ), Gryphon Press, 1972, 772–773 p., « Review of Stanford–Binet Intelligence Scale, Third Revision ».
(en) Stephen Jay Gould, The Mismeasure of Man, New York (NY), W. W. Norton, 1981, 444 p. (ISBN 978-0-393-31425-0, lire en ligne).
(en) Quinn McNemar, The revision of the Stanford–Binet Scale, Boston, Houghton Mifflin, 1942.
(en) Samuel R. Pinneau, Changes in Intelligence Quotient Infancy to Maturity : New Insights from the Berkeley Growth Study with Implications for the Stanford–Binet Scales and Applications to Professional Practice, Boston, Houghton Mifflin, 1961.
(en) Lewis Madison Terman et Maude A. Merrill, Measuring intelligence : A guide to the administration of the new revised Stanford–Binet tests of intelligence, Boston (MA), Houghton Mifflin, coll. « Riverside textbooks in education », 1937.
(en) Lewis Madison Terman et Maude A. Merrill, Stanford–Binet Intelligence Scale : Manual for the Third Revision Form L–M with Revised IQ Tables by Samuel R. Pinneau, Boston (MA), Houghton Mifflin, 1960.
(en) Nancy Richardson, « Stanford–Binet IV, of Course!: Time Marches On! (originally published as Which Stanford–Binet for the Brightest?) », Roeper Review, vol. 15, n^o 1,‎ 1992, p. 32–34 (DOI 10.1080/02783199209553453, lire en ligne).
(en) Deborah D. Waddell, « The Stanford–Binet: An Evaluation of the Technical Data Available since the 1972 Restandardization », Journal of School Psychology (en), vol. 18, n^o 3,‎ 1980, p. 203–209 (DOI 10.1016/0022-4405(80)90060-6, lire en ligne, consulté le 29 juin 2010).