↑(en) I.Z. Mitrovic, O. Buiu, S. Hall, C. Bungey, T. Wagner, W. Davey et Y. Lu, « Electrical and structural properties of hafnium silicate thin films », Microelectronics Reliability, vol. 47, nos 4-5, , p. 645-648 (lire en ligne)DOI10.1016/j.microrel.2007.01.065